Dissertationen
  • Balasa, Istvan
    18.06.2020
    XUV/EUV-Reflektrometrie als komplementäre Messmethode für die oberflächen Materialanalytik
  • Hahn, Jan
    21.04.2020
    Computergestützte Analysetechnik und individuelle Modellbildung zur optomechanischen Untersuchung laserbehandelter Augenlinsen