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Analysis in wavelength dependence of electronic damage

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  • Analysis in wavelength dependence of electronic damage
M. Jupé, L. O. Jensen, K. Starke, D. Ristau, A. Melninkaitis, V. Sirutkaitis
Analysis in wavelength dependence of electronic damage
SPIE Laser Damage, 21.-23. September, Boulder, 75040N (2009)
Veröffentlichungstyp: Konferenzbeitrag
DOI: 10.1117/12.836701

Abstract

Many investigations in laser induced damage thresholds (LIDT) have shown a very deterministic behavior for the ultra short pulse regime. From the current understanding, femtosecond laser damage is driven by electronic photon-matter interaction. This process can be theoretically described by photo-, and avalanche-ionization and the respective relaxation processes. On the basis of a wavelength dependency of the laser-induced damage threshold of titania, a dominant influence of multi-photon absorption (MPI) on the damage behavior could be demonstrated. This particular characteristic could be observed in a stepwise increase of the LIDT in the transition ranges of the orders of multi-photon absorption. This paper presents an analysis of the wavelength dependence of femtosecond LIDT with different theoretic models and a comparison of simulated data with the measured wavelength dependence of titania. Both, the wavelength position and the quantitative change of the laser power resistance in the range of the n to the n+1 photon absorption are calculated in a theoretical analysis. Additionally, the influence of different microstructures of titania on the quantized MPIcharacteristic is investigated.

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